Методи за изпитване и правила за проверка
1. Проверка на партида по партида (инспекция на група A)
Всяка партида от продукти трябва да бъде инспектирана съгласно таблица 1 и всички елементи в таблица 1 са неразрушителни.
Таблица 1 Проверка на партида
| Група | InspectionItem | Метод на проверка | Критерий | AQL (Ⅱ) |
| A1 | Външен вид | Визуална проверка (при нормални условия на осветление и видимост) | Логото е ясно, повърхностното покритие и обшивката са без белене и повреди. | 1.5 |
| A2a | Електрически характеристики | 4.1(25℃), 4.4.3(25℃) в JB/T 7624—1994 | Обърната полярност: VFM>10USLIRRM>100USL | 0,65 |
| A2b | VFM | 4.1 (25 ℃) в JB/T 7624—1994 | Жалба по изискванията | 1.0 |
| IRRM | 4.4.3 (25 ℃, 170 ℃) в JB/T 7624—1994 | Жалба по изискванията | ||
| Забележка: USL е максималната гранична стойност. | ||||
2. Периодична проверка (инспекция от група B и група C)
Съгласно таблица 2 финализираните продукти при нормално производство трябва да бъдат инспектирани поне една партида от група B и група C всяка година, а елементите за проверка, маркирани с (D), са разрушителни тестове.Ако първоначалната проверка е неквалифицирана, допълнителното вземане на проби може да бъде повторно инспектирано съгласно таблица A.2 от допълнение, но само веднъж.
Таблица 2 Периодична проверка (група B)
| Група | InspectionItem | Метод на проверка | Критерий | План за вземане на проби | |
| n | Ac | ||||
| B5 | Температурен цикъл (D), последван от запечатване |
| Измерване след тест: VFM≤1,1USLIRRM≤2USLне изтичане | 6 | 1 |
| CRRL | Дайте накратко съответните атрибути на всяка група, VFMи азRRMстойности преди и след теста и заключението на теста. | ||||
3. Идентификационна проверка (проверка от група D)
Когато продуктът е финализиран и пуснат в производствена оценка, в допълнение към инспекциите на групи A, B, C, тестът на група D също трябва да се направи съгласно таблица 3, а елементите на проверката, маркирани с (D), са разрушителни тестове.Нормалното производство на готови продукти се тества поне една партида от група D на всеки три години.
Ако първоначалната проверка е неуспешна, допълнителното вземане на проби може да бъде повторно инспектирано съгласно таблица A.2 от допълнение, но само веднъж
Таблица 3 Тест за идентификация
| No | Група | InspectionItem | Метод на проверка | Критерий | План за вземане на проби | |
| n | Ac | |||||
| 1 | D2 | Тест за натоварване на термичен цикъл | Време на цикъл: 5000 | Измерване след тест: VFM≤1,1USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| 2 | D3 | Удар или вибрация | 100g: задръжте 6ms, полусинусоидална форма на вълната, две посоки на 3 взаимно перпендикулярни оси, 3 пъти във всяка посока, общо 18 пъти. 20g: 100~2000Hz，2h във всяка посока, общо 6h. | Измерване след тест: VFM≤1,1USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| CRRL | Дайте накратко съответните атрибутни данни на всяка група, VFM, IRRMи азDRMстойности преди и след теста и заключението на теста. | |||||
Маркировка и опаковане
1. Маркирайте
1.1 Маркировката върху продукта включва
1.1.1 Номер на продукта
1.1.2 Идентификационен знак на терминала
1.1.3 Име на фирмата или търговска марка
1.1.4 Идентификационен код на инспекционната партида
1.2 Лого върху картонената опаковка или приложената инструкция
1.2.1 Модел на продукта и стандартен номер
1.2.2 Име и лого на фирмата
1.2.3 Влагоустойчиви и дъждоустойчиви знаци
1.3 Опаковка
Изискванията за опаковане на продукта трябва да отговарят на националните разпоредби или изискванията на клиента
1.4 Продуктов документ
Моделът на продукта, номерът на стандарта за изпълнение, специалните изисквания за електрическа ефективност, външен вид и т.н. трябва да бъдат посочени в документа.
Theзаваръчен диодпроизведени от Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor се прилагат широко в апарати за резистентно заваряване, средно и високочестотни заваръчни машини до 2000Hz или повече.Със свръхниско предно пиково напрежение, ултраниско термично съпротивление, най-модерна производствена технология, отлична способност за заместване и стабилна производителност за глобални потребители, заваръчният диод от Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor е едно от най-надеждните устройства в Китай полупроводникови продукти.
Време на публикуване: 14 юни 2023 г